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Mesure et caractérisation de surface

Des outils et instruments de microscopie à sonde locale pour l’analyse de surface du millimètre au nanomètre

Les microscopies à sonde locale

La microscopie à force atomique (AFM, d'après l'anglais « Atomic Force Microscopy ») a connu un développement rapide, devenant l’une des technique principale pour obtenir des images de topographie des surfaces de résolution transversale et verticale, de l’ordre du nanomètre. De plus, une multitude de mesures annexe peuvent étre réaliser en même temps que la topographie, tel que la microscopie à force magnétique (MFM) qui est capable de cartographier les domaines magnétique.

Service d’analyse

Lovalite utilise une gamme d'instruments de microscopie optique, de profilomètres et de microscopie à balayage (STM) à microscopie à force atomique (AFM) pour fournir des services d'analyse de surface. Le microscope optique nearfield (SNOM) fournit une analyse optique des échantillons.

De nombreux modes peuvent être utilisés comme EFM, MFM, Phase Imaging, CAFM, KPM, ....

Nous effectuons des mesures quantitatives de nanoparticules.

Nous sommes également capables de modifier l'échelle nanométrique de surface avec des outils tels que la nanolithographie.

Equipements disponibles

Equipements  Lovalite : Microscope Digital Keyence, AFM, SNOM, machine d'étirage fibre , soudure fibre, reflectometre, goniometre, sources  laser.


Equipements accessible sur une plateforme locale : Metal sputtering, Plasma sputtering, MEB, Scie de Precision,  Spectrometre.

Services fournis :

  • Topographie de surface, rugosité de surface, taille de grain, hauteur de marche, périodicité,  ....
  • Caractérisation et imagerie d'échantillons. Cartographie des propriétés electriques, magnetiques, piezo, ...
  • Cartographie et analyse des propritétés élastiques et tribologiques de surfaces