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NT-KP: Kelvin Probe

NT-KP: Kelvin Probe

La technologie est basée sur le revêtement des pointes AFM avec des nanoparticules de taille et de composition chimique contrôlée.Le dépôt se fait dans des conditions de très haut vide ce qui garantit la pureté des nanoparticules.
Les nanoparticules déposées à l'extrémité des pointes agissent comme les sondes finales en microscopie, améliorant la résolution spatiale avec les propriétés physiques et chimiques intrinsèques des nanoparticules.
Les pointes AFM de Next-Tip ont été revêtus d'une couche spéciale de nanoparticules de 2 à 3 nm qui permettent une cartographie haute résolution en topographie et Kelvin en mode tapping.
Pour la microscopie à sonde Kelvin, le revêtement est entièrement conducteur sur toute la longueur du cantilever.

Caractéristiques produits

General Features
Chip composition Silicon
Pyramidal cantilever 225 μm (length), 30 μm (width)and 3 μm (thickness)
Cantilever composition silicon
Tip composition silicon
Tip coating Au
Resonancefrequency 75kHz
Force constant 8N/m
Tip height 10-15μm
Tip radius Nanoparticle (2-3nm)
Reflex coating: No (upon request)

Test
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