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Tria SPM

Tria SPM

Le TriA-SPM est un système innovant d'imagerie et de sondage à haute résolution. Il est principalement consacré aux études de biomatériaux (acides nucléiques, peptides et protéines, cellules et tissus, etc.) ainsi que des échantillons de films minces. L'observation directe de l'échantillon à l'aide du microscope inversée intégrée élargit la gamme des applications, des surfaces de matériaux durs à l'échantillon biologique.

Le TriA SPM fournit simultanément une double observation d'échantillon optique (verticale et inversée) pour les techniques de microscopie optique commune, ainsi que des techniques SPM pour des échantillons transparents et opaques, sans sacrifier le SPM (AFM ou SNOM) ou la performance optique.

La configuration optique est couplée avec un système vidéo haute définition avec des capacités de capture d'image en temps réel, assurant l'échantillonnage et la surveillance continue de la sonde et la documentation.

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Caractéristiques produits

KEY FEATURES
• Ease of Use AFM Mode: supports major SPM techniques* but not restricted to the following
• Double optical system • Contact AFM mode • Non-contact mode • Semi-contact • Phase imaging
• Automatic tip sample contact • Phase imaging approach
• Easily interchangeableSamples • Lateral force microscopy • Force curves analysis • Electric properties • Magnetic force microscopy
• High Versatility SNOM Mode
• Integrated acoustic andvibration damping system • Totpography • Reflection • Back-reflection • Transmission

 

SCANNING SYSTEM
Scanning stage with absolute positioning system and strain gauge sensors.
XY scan size Z scan size
• 100μm x 100μm (high voltage mode) • 10μm x 10μm (low voltage mode) • 10μm (high voltage mode) • 1μm (low voltage mode)
Resolution (high voltage mode) Resolution
• 2nm (closed loop) • 0.2nm (open loop) • 0.16nm (high voltage mode)

• 0.02nm (low voltage mode)

Closed loop linearity 0,1%
Maximum sample size: can accommodate samples with different geometries and sizes up to 30mm diameter.

 

SPM CONTROL SYSTEM
• Composed by a digitally controlled analog feedback that combines the flexibility of computer controlled parameters with the high resolution and low noise of an analogue implementation. This detection scheme provides sub-nanometric vertical resolution in the images and all collected signals are distortions free. Electronics supports STM, AFM and SNOM heads, performs different kinds of spectroscopy and can acquire several user-defined auxiliary channels.