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STM

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La microscopie à effet tunnel (STM) s'est avérée être un outil inestimable pour sonder différentes surfaces et fournir à la fois une information de topographie et  de spectroscopie avec une résolution spatiale à l'échelle atomique. Cette technique a été  appliqué avec réussite sur différents échantillons et a élargi son champ d'application de la mesure de métal standard et la caractérisation des semi-conducteurs à la visualisation directe des molécules organiques déposé sur un substrat conducteur.

APE. Research a développé un STM compacte capable d'imager la surface de l'échantillon avec une précision sub-angstrom verticale et une vraie résolution atomique latéralement.
La mesure avec le pA STM est facilement réalisable et rapide dans l'air pour une large gamme de matériaux. En outre, avec la configuration pA STM, il est possible de faire fonctionner le système dans un environnement contrôlé ou effectuer l'imagerie dans "une goutte de liquide".

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Caractéristiques produits

KEY FEATURES

• Atomic resolution

• Low tunneling currents (up to 500fA)

• Working modes: imaging at constant tunnel current, imaging at constant height
• Low tunneling currents (up to 500fA) I-V spectroscopy, etc.

 

PA STM SCANNING SYSTEM
Standard scanner technical data

XY piezotube scan size Z piezotube scan size
• 10μm x 10μm
(high voltage mode)
• 650nm x 650nμm
(low voltage mode)
• 1,2μm
(high voltage mode)
Resolution Resolution
• 1.5Å
(high voltage mode)

• 0.1Å
(low voltage mode)

• 0.2Å (high voltage mode)
Translation stage
• 5mm x 5mm XY • 13mm
(4mm servo-assisted) Z

 

STM HEAD WITH TIP HOLDER SPM CONTROL UNIT
• The head houses low current amplifier with 109V/A gain that makes possible to get images from 2pA to 2nA. Other amplifiers with different gain are available on request. • Sample bias: -10V to +10V with step < 1mV • SPM Control Unit and PC (equipped with a multi inputoutput board) drives the scanner, data acquisition and sample motion. Tip to sample distance is controlled by ultra-low noise analog feedback, digitally driven by PC. High speed and temporal precision are provided by hardware timing.
ACQUISITION SOFTWARE ACCESSORIES
• Software runs under Windows and is composed of a multi-window applications for instrument control and data acquisition. The software comes equipped with simple filters for immediate analysis of acquired images. The software controls all the parameters of the instrument. • pA STM can be equiped with additional tools to enhance the instrument capabilities.